熱処理分野でのLeeb Hardnessテスターの適用

Mar 28, 2025

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検出原則と予防策

1.検出原則

Leeb Hardnessテストは、弾性衝撃の原理を使用して硬度を得る動的なテスト方法です。ただし、不十分な理解のテスト条件の動的テスト方法に関するオペレーターの大部分は、厳格または不適切な動作やその他の問題がなく、Leeb Hardness Testerアプリケーションが検出エラーを生成するプロセスをもたらします。 Leebの硬度の概念は、弾性の作用下での衝撃体の規定の質量であるLeeb博士によって提案されています。標本の表面に対する特定の速度の衝撃は、標本のリバウンド速度と衝撃速度比から1mmの1mmのボールヘッドで、Leeb硬度計算形式として定義された1000を乗算します。

hl =1000×νRA

 

HLはリーブの硬度です。 vR衝撃因子リバウンド速度、m・sです-1;およびvAインパクトインパクト速度、m・sです-1.

2.説明

Leeb硬度テスターに​​は通常、材料オプション関数が装備されています。使用する前に、テストオブジェクトの対応する材料オプションに調整する必要があります。材料オプションは、弾性Eのモジュラスに従って分割されます。オプションのパラメーターは、テスト結果の精度に直接影響します。

金属の合金要素と冶金および熱処理プロセスのさまざまな化合物により、微細構造の弾力性の多相、拡散、高い弾性率が形成されるため、材料の動的な機械的特性の変化は、弾性のモジュラスを弾力性の変化に非常に敏感にします。基本材料のLeeb硬度とは異なり、弾性弾性率の変化に非常に敏感ですが、基本材料のLeeb硬度とも異なります。原則として、より高い合金含有量を持つ材料は弾力性の弾性率が高いため、弾力性の弾性率を持つ鋼を2-3の選択肢から低合金含有量に分類できます。

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3.インパクトデバイスの選択

さまざまなフィールド環境テストに適用するために、Richter Hardness Tester Impact Deviceモデル、さまざまなモデルにはさまざまな目的があり、すべてのモデルが含まれています。Dタイプ、DCタイプ、Sタイプ、Eタイプ、D + 15タイプ、DLタイプ、Cタイプ、Gタイプ。その中で、D型インパクトデバイスは、一般的な標準構成として、一般的な金属標本硬度テストに適用される標準構成として属します。 DCタイプの衝撃デバイスは短くなり、特殊な力リング、その他のパラメーター、D型衝撃デバイスの使用は基本的に同じであり、穴、円筒形のシリンダーなどのより小さな硬度テストの空間に適用されます。ボールヘッドの直径が大きいG型インパクトデバイス、衝撃エネルギーはより高く、測定されるオブジェクトの表面品質は、G型インパクトデバイスの粗い表面部品とコンポーネントに適しています。粗い部品の表面と硬度テストの鍛造装置に適用します。 Cタイプの衝撃デバイスは短く、衝撃エネルギーはD型デバイスの約1/4であり、表面硬化層、薄層、およびより小さなテストオブジェクト検出の品質に適しています。

検出プロセス分析

 

小さな質量標本の特別な安定化なしに衝突体と測定されたオブジェクトは、衝突が終わったときに、衝突が終わったときに瞬間的な加速の衝撃方向に対する衝撃力の作用の下にあります。したがって、テストオブジェクトの品質は、標本表面や粘性フィルムの適用間の重いサポートなど、インパクトテスト検出条件の最小要件を満たすことができません。
テストオブジェクトの要件の厚さに関するLeeb硬度テスターは、穴を開けることができないだけでなく、衝撃力のテストオブジェクトが弾性または塑性変形の現象が発生することを防ぐため、衝撃装置の厚さは関連する検出条件を満たす必要があります。
テストオブジェクトの表面粗さのLeeb硬度テスターに​​は特定の要件があり、試験片の表面粗さは低い値の検出につながり、標本の硬度が高くなります。汎用(Dタイプ)テスト試験片の表面粗さRA要件に2。0μmで衝撃デバイス。インデンテーション間隔に他のさまざまな硬度テスト方法があるため、インデントマージンには特定の要件があり、インデントの間隔に関するLeebの硬度テストには、対応する要件もあります。硬度のインデントとその周囲の材料の特定の領域が冷たく硬化するため、新しいインデントとそのストレスゾーンは前の領域を離れるはずです。そうしないと硬さが高くなります。インデントストレスの影響領域により、インデントの中心が測定されたオブジェクトの端に近すぎると、硬度値は低くなります。

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テストフォースのLeeb硬度テスターは、リバウンド力の方向がリバウンドの方向から逸脱し、そのリバウンド速度が速度よりも少なくなり、硬度が低くなるように、衝撃体と標本の衝突など、テストオブジェクトの表面に垂直に垂直にすることができないように、テストオブジェクトの表面に垂直にすることを保証するようにする必要があります。垂直性が悪化するほど、バイアスが低いほど明白です。
また、テスト結果の凹状コンベックス円筒表面および球面表面の標本表面の曲率半径に注意を払う必要があります。また、表面硬化層の硬度の検出は、硬化層の有効厚さに注意を払う必要があります。

測定結果

LM1006

リヒター硬度テストは少なくとも3回実行され、算術平均が計算されます。硬度の差が20 hLを超える場合、テストの数が増加し、算術平均が計算されます。