膜厚計の動作原理には、主に磁気引力測定原理と磁気誘導測定原理が含まれます。
磁気引力測定原理: この原理は、永久磁石（プローブ）と磁性鋼の間の引力がそれらの間の距離に比例するという事実を利用しています。磁性鋼が測定対象物に吸着されると、測定バネが徐々に伸びて引っ張る力が徐々に大きくなります。引張力が引力よりもわずかに大きい場合、磁性鋼が分離された瞬間の引張力の大きさを記録して、コーティングの厚さを求めます。
磁気誘導測定原理: この方法では、プローブから非強磁性コーティングを通って強磁性基板に入る磁束の大きさを使用して、コーティングの厚さを決定します。コーティングが厚いほど磁気抵抗は大きくなり、磁束は小さくなります。この原理を利用した膜厚計は、磁性基板上の非磁性被膜の膜厚を測定することができます。
応用分野: 膜厚計は、アルミニウム、クロム、銅、エナメル、ゴム、塗料などの磁性金属基板上の非磁性膜の厚さを測定するために、製造、金属加工、化学工業、商品検査などの分野で広く使用されています。さらに、エナメル、ゴム、プラスチックなどの非磁性金属基板上の非導電性コーティングの厚さを測定することもできます。
技術開発: 最新の膜厚計には、周波数安定化、位相ロック、温度補償などの新技術が導入されており、特許取得済みの集積回路とマイクロコンピュータを使用して測定精度と再現性が大幅に向上しています。解像度は 0.1um に達し、許容誤差は 1%、範囲は 10mm です。